LTE面試問題及答案

LTE面試問題及答案

　　LTE測試中關(guān)注哪些指標(biāo)?下面就由學(xué)習(xí)啦小編為大家介紹一下LTE面試問題及答案的文章，歡迎閱讀。

　　LTE面試問題及答案篇1

　　1. LTE測試用什么軟件?什么終端?

　　答：LTE測試前臺測試使用華為出的測試軟件GENEX Probe，后臺分析使用GENEX Assistant ; 測試終端有：CPE(B593s)、小數(shù)據(jù)卡(B398和B392)、TUE

　　2. LTE測試中關(guān)注哪些指標(biāo)?

　　答：LTE測試中主要關(guān)注PCI、RSRP(接收功率)、SINR(信號質(zhì)量)、PUSCH Power(UE的發(fā)射功率)、傳輸模式(TM3為雙流模式)、上下行速率、掉線率、連接成功率、切換成功率„„„„MCS調(diào)制與編碼的方式 越高信號質(zhì)量越好 0-31也能分配更多資源 RB無線資源塊

　　3. UE的發(fā)射功率多少?

　　答：LTE中UE的發(fā)射功率由PUSCH Power 來衡量，最大發(fā)射功率為23dBm;

　　LTE面試問題及答案篇2

　　1. LTE和CDMA有什么相同點和不同點?

　　答：1、網(wǎng)絡(luò)構(gòu)架不同，LTE無基站控制器，即2G中的BSC和3G的RNC;

　　2、CDMA使用的是碼分多址技術(shù)，LTE使用的是OFDM技術(shù);

　　3、CDMA有CS和PS域，LTE只有PS域;

　　4. LTE各參數(shù)調(diào)度效果是什么?

　　1、20M帶寬有100個RB，只有滿調(diào)度才能達到峰值速率，調(diào)度RB越少速率越低;

　　2、PDCCCH DL Grant Count 在F\D\E頻段中下行滿調(diào)度為600次/秒，只有滿調(diào)度才能達到峰值速率，調(diào)度次數(shù)越少速率越低;PDCCCH UL Grant Count 在F頻段中上行滿調(diào)度為200次/秒，D\E頻段中上行滿調(diào)度為400次/秒，只有滿調(diào)度才能達到峰值速率，調(diào)度次數(shù)越少速率越低;

　　5. LTE后臺操作相關(guān)步驟，包括添加鄰區(qū)、調(diào)整參數(shù)等?

　　6. LTE上下行都有什么信道?

　　LTE面試問題及答案篇3

　　1. 控制信道具體相關(guān)信息?

　　答：物理下行控制信道( PDCCH： Physical downlink control channel )

　　1、通知UE PCH和DL-SCH資源分配以及與DL-SCH相關(guān)的混合HARQ信息

　　2、承載上行鏈路調(diào)度允許信息

　　3、多路PDCCH可以在一個子幀中傳送

　　4、子幀中用于PDCCH的OFDM符號設(shè)置為前n個OFDM符號，其中n £ 3

　　2. 作為一個地市的負責(zé)人，需要做些什么?

　　3. PCI規(guī)劃?

　　答：PCI規(guī)劃的原則：

　　 對主小區(qū)有強干擾的其它同頻小區(qū)，不能使用與主小區(qū)相同的PCI(異頻小區(qū)的鄰區(qū)可以使

　　用相同的PCI)電平，但對UE的接收仍然產(chǎn)生干擾，因此這些小區(qū)是否能采用和主小區(qū)相同的PCI(同PCI復(fù)用)

　　 鄰小區(qū)導(dǎo)頻符號V-shift錯開最優(yōu)化原則;

　　 基于實現(xiàn)簡單，清晰明了，容易擴展的目標(biāo)，目前采用的規(guī)劃原則：同一站點的PCI分配在同一

　　個PCI組內(nèi)，相鄰站點的PCI在不同的PCI組內(nèi)。

　　 對于存在室內(nèi)覆蓋場景時，規(guī)劃時需要考慮是否分開規(guī)劃。

　　 鄰區(qū)不能同PCI，鄰區(qū)的鄰區(qū)也不能采用相同的PCI;

　　PCI共有504個，PCI規(guī)劃主要需盡量避免PCI模三干擾;

　　4. LTE與TD的區(qū)別，對LTE的認識?

　　1、網(wǎng)絡(luò)構(gòu)架不同，LTE無基站控制器，即2G中的BSC和3G的RNC;

　　2、TD使用的是時分雙工碼分多址技術(shù)(TD-SCDMA)，LTE使用的是正交頻分多址OFDM技術(shù);

　　3、TD有CS和PS域，LTE只有PS域;

　　4、幀結(jié)構(gòu)不相同;