主板開(kāi)機(jī)電腦畫(huà)面不動(dòng)怎么辦
主板開(kāi)機(jī)電腦畫(huà)面不動(dòng)怎么辦
當(dāng)電腦啟動(dòng)后，主板也開(kāi)機(jī)了，可電腦卻顯示畫(huà)面不動(dòng)，怎么處理呢?下面是學(xué)習(xí)啦小編為大家介紹主板開(kāi)機(jī)電腦畫(huà)面不動(dòng)的解決方法,歡迎大家閱讀。
主板開(kāi)機(jī)電腦畫(huà)面不動(dòng)的解決方法
1、我們通過(guò)上圖看出，是bios設(shè)置的問(wèn)題，我們只要找到相應(yīng)的設(shè)置項(xiàng)就能解決問(wèn)題了。先按bios啟動(dòng)鍵，然后我們可以選擇中文模式，在底下點(diǎn)擊“高級(jí)模式”，如圖：
2、在bios菜單欄中點(diǎn)擊“啟動(dòng)”，找到“若出現(xiàn)錯(cuò)誤等待按下f1鍵”，在對(duì)應(yīng)的右邊選項(xiàng)中選擇“關(guān)閉”，如圖：
3、按f10保存，重啟計(jì)算機(jī)即可，開(kāi)機(jī)停留在主板logo問(wèn)題就解決了。
附加主板開(kāi)機(jī)不自檢的原因及解決方法：
1、BIOS芯片故障或BIOS被病毒破壞
主機(jī)加電后最初要完成BIOS代碼程序的加栽，首先系統(tǒng)把BIOS中的第一條指令讀入內(nèi)存并解釋執(zhí)行。該指令無(wú)論是AWARD還是AMI都是一樣的，為一條3字節(jié)的跳轉(zhuǎn)指令。接下來(lái)就是讀入BIOS自舉塊，以完成BIOS自身的檢測(cè)和加載。只有系統(tǒng)把BIOS代碼讀入內(nèi)存后，CPU才會(huì)按代碼程序開(kāi)始執(zhí)行自檢和啟動(dòng)過(guò)程。
BIOS出現(xiàn)的故障不多，偶爾會(huì)出現(xiàn)BIOS芯片因?yàn)槔匣糠执鎯?chǔ)單元失效，致使程序代碼不全，無(wú)法正常完成系統(tǒng)功能調(diào)用而出現(xiàn)不能正常啟動(dòng)現(xiàn)象。 還有，像CIH之類(lèi)的病毒，惡意的改寫(xiě)主板的BIOS代碼，造成主機(jī)不能啟動(dòng)，開(kāi)機(jī)后主機(jī)能夠正常加電，風(fēng)扇工作，但是無(wú)法完成自檢過(guò)程，同時(shí)顯示器有文字顯示，主機(jī)還有報(bào)警聲;當(dāng)然嚴(yán)重的可能是只能加電，顯示器沒(méi)有圖像，主機(jī)也無(wú)報(bào)警聲。
2、顯卡故障
顯卡的BIOS損壞或AGP通訊電路故障時(shí)，就會(huì)出現(xiàn)顯卡初始化時(shí)無(wú)法完成，導(dǎo)致主機(jī)在啟動(dòng)時(shí)畫(huà)面長(zhǎng)時(shí)間停留在顯卡BIOS自檢處不能通過(guò)而死機(jī)。
注意：使用兩三年的主板，特別是在網(wǎng)吧里使用的機(jī)器，因?yàn)闄C(jī)器長(zhǎng)時(shí)間高溫工作，CPU周?chē)臑V波電容因烘烤而失容，造成CPU供電電源中交流成份增加，表現(xiàn)為機(jī)器在啟動(dòng)不易，需要多次開(kāi)機(jī)偶爾才能正常啟動(dòng)進(jìn)入桌面，經(jīng)常在自檢過(guò)程中死機(jī)，故障表現(xiàn)不穩(wěn)定多變。
3、BIOS自檢
系統(tǒng)在完成顯卡的自檢后，才會(huì)開(kāi)始BIOS代碼檢查，顯示器上通常會(huì)顯示BIOS的版本號(hào)，主板的型號(hào)。
4、CPU的L2或L1CACHE不完全損壞或CPU其它電路出現(xiàn)老化當(dāng)主機(jī)完成顯卡的初始化后，接下來(lái)開(kāi)始檢測(cè)CPU自檢。當(dāng)CPU的L1或L2出現(xiàn)故障時(shí)，就會(huì)長(zhǎng)時(shí)間停滯在“CHECK NVRAM......”處。出現(xiàn)此故障時(shí)，部分機(jī)器還能夠進(jìn)入CMOS設(shè)置，我們可以手動(dòng)的關(guān)閉CPU的L1和L2，再試著觀察機(jī)器能不能通過(guò)自檢。如果可以，該CPU基本還能夠降速使用。如果不可以，則只能更換CPU解決問(wèn)題。
5、內(nèi)存故障
系統(tǒng)完成CPU檢測(cè)后，就進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試階段。如果我們關(guān)閉了POST快速檢測(cè)選項(xiàng)，我們開(kāi)機(jī)時(shí)就看不到長(zhǎng)時(shí)間的內(nèi)存測(cè)試界面(連續(xù)三遍)，只有一遍測(cè)試。內(nèi)存芯片有故障或內(nèi)存插槽變形與內(nèi)存接觸不良，內(nèi)存條金手指氧化，內(nèi)存插槽金屬簧片變形或斷裂，內(nèi)存供電電壓偏低或偏高都會(huì)出現(xiàn)內(nèi)存自檢無(wú)法通過(guò)而死機(jī)。
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